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Electrically induced 2D half-metallic antiferromagnets and spin field effect transistors 期刊论文
Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America, 2018, 卷号: 115, 期号: 34
作者:  Gong S.-J.;  Gong C.;  Sun Y.-Y.;  Tong W.-Y.;  Duan C.-G.;  Chu J.-H.;  Zhang X.
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